傳輸線脈衝（TLP）測試

傳輸線脈衝測試（TLP測試）用於靜電釋放保護結構物的半導體表徵。在傳輸線脈衝測試中，高電流脈衝以逐漸升高的電平通過規定長度的共軸電纜施加到被測的引線上。施加的脈衝的電流幅度和持續時間是人體模型事件（或者如果是非常快速的TLP測試（VF-TLP），充電裝置模型CDM事件）的典型電流幅度和持續時間。對事件和反映脈衝進行評估，得出一條電壓-電流（V-I）曲線，曲線描述了ESD保護結構物對施加的TLP應力的反應。傳輸線脈衝測試是獨一無二的，因為電流脈衝可以高達幾安培，TLP測試結果可以表明ESD保護裝置的開啟、急變返回和保持特徵。

傳輸線脈衝測試有兩個非常重要的用途。第一，TLP測試可以用來表徵新工藝技術和知識產權的測試晶片的輸入/輸出pad cell。TLP可以有效地開發模擬參數，以及用於實施針對創新pad cell設計的不同ESD保護方案的相對優點定性比較。 其次，TLP可以用作電氣失效分析工具，往往與常規的標準化元件ESD測試相結合。

傳輸線脈衝測試按照ESDA TLP測試方法ESDA SP5.5-2003實施，.這種測試測試根據具體專案以及任務說明書、實現實際測試所需的估算工程時間以及客戶的報告要求而報價。

適用的傳輸線脈衝測試規格

• ESDA SP5.5-2003 (ESD協會)