GDMS(輝光放電質譜)

固體樣品使用GDMS（輝光放電質譜）測量分析，於Ar電漿輝光放電中將陰極固體樣品表面電離或濺射中性粒子，再與電子碰撞而被釋放。GDMS高靈敏度、容易校準、靈活性和穩定性地分析各種不同的樣品與基質，對於痕量元素分析來說是不錯的選擇。除了全元素測量之外，還有可能利用較高的靈敏性來測量和定量評估元素分布的深度。

EAG是GDMS分析服務的行業領導者，可以針對各種不同類型的固體、薄膜和塗層提供最佳的探測限制，以及確定準確的質量百分比。EAG在GDMS分析領域內深刻而廣泛的經驗以及對於分析方法研發的投入程度都是無人能敵的，EAG具有最大數量的GDMS儀器以及高素質的科學家，幫助客戶解決材料方面的問題。

EAG通常會使用GDMS分析來幫助客戶解決多種行業內的問題，包括研發、品質控制、過程監控和開發。EAG通過對個人的服務，使得客戶對分析結果以及潛在含義有了更為全方面的理解。

對於利用GDMS、IGA、ICP-OES或LA-ICP-MS分析進行痕量元素分析來說：

EAG（紐約）--樣品送件表（英文，pdf）
EAG SAS（法國）--樣品送件表（英文，pdf）
EAG SAS（法國）--樣品送件表（法國，pdf）